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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

242

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

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Integrated circuit modeling Digital signal processing Bio-logging Circuit faults Test Noise measurement Indirect testing Deep learning Convective accelerometer Power demand Test confidence Oscillatory Neural Networks Phase shifter One bit acquisition Fault attacks Side-channel attacks Test efficiency Oscillatory Neural Network Process variability Pattern recognition Circuit simulation Bioimpedance Carbon nanotubes ADC Performance Technology computer-aided design TCAD SRAM Qubit Alternate testing Digital ATE Neuromorphic computing Image Edge Detection Self-oscillations RF integrated circuits Specifications Sensors Evaluation Carbon nanotube Fault tolerance Low-power 1-bit acquisition Three-dimensional displays Phase noise Automatic test pattern generation Machine-learning algorithms Noise Countermeasures Quantum computing Magnetic tunneling Oscillatory neural networks ONN Integrated circuit noise Delays Reliability Current mirror Energy Insulator-Metal-Transition IMT Microprocessors Electrothermal simulation Calibration Oscillatory neural network FDSOI technology SEU Hardware RSA Time-domain analysis Indirect test RF test Analog signals Integrated circuits EM fault injection Test cost reduction Integrated circuit testing ZigBee Through-silicon vias Interconnects Transistors Beyond-CMOS devices Analog/RF integrated circuits Hardware security Quantum Switches Computer architecture 3D integration Mutual information Side-channel analysis Edge AI Education Edge artificial intelligence edge AI Self-heating Ensemble methods Electronic tagging Three-dimensional integrated circuits Error mitigation Low-cost measurements Bioimpedance spectroscopy NP-hard problems Vanadium dioxide MEMS OQPSK Logic gates